微分干涉显微镜根据其原理,在电子产品检查中主要用于LCD导电粒子,精密磁盘表面划痕检测等领域。微分干涉显微镜原理是用平面偏振光作为光源,光线经棱镜折射后分成两束,在不同时间经过样品的相邻位置,,然后经过另一棱镜将这两束光聚合,从而把样品中上下高度上的微小差别转化成明暗区别,增加了样品反差,有类似大理石上的浮雕三维立体感。
简而言之:微分干涉显微镜可用于观察检查光洁平面的上下微小凸起凹陷。
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