金属覆盖层镀层测量显微镜55C-FG主要检测通过对经过切割、镶嵌、磨抛、腐蚀处理过的横截面，来测量金属覆盖层、氧化膜层和釉瓷或玻璃搪瓷覆盖层的局部厚度。该显微镜测量系统采用光学显微镜与现代摄像成像融为一体的图像测量技术，具有成像清晰。测量精确等特点，同时测量结果可以图文形式保存。
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金属覆盖层镀层测量显微镜55C-FG主要检测通过对经过切割、镶嵌、磨抛、腐蚀处理过的横截面，来测量金属覆盖层、氧化膜层和釉瓷或玻璃搪瓷覆盖层的局部厚度。该显微镜测量系统采用光学显微镜与现代摄像成像融为一体的图像测量技术，具有成像清晰。测量精确等特点，同时测量结果可以图文形式保存。