金属覆盖层测量显微镜55C-FG采用了光学显微镜与现代摄像成像融为一体的图像测量技术,通过检测横截面,以测量金属覆盖层、氧化膜层和釉瓷或玻璃搪瓷覆盖层的局部厚度。同时完全符合GB T 12334-2001 金属和其他非有机覆盖层关于厚度测量的定义和一般规则标准及对应IS0 2064:1996标准,GB T 6462-2005金属和氧化物覆盖层厚度测量显微镜法及对应IS0 1463:2003。
产品特点:
1、 采用光学显微镜与现代成像测量融为一体的图像测量技术
2、 摄像系统配置了CCD数字摄像头,图像更清晰
3、 实现了一键测量、一键保存。完全取代手工测量繁琐过程