塑料薄膜多层厚度测量显微镜55C-SL采用了光学显微镜与现代成像测量融为一体的图像测量技术，使制好试样的多层塑料薄膜横剖面结构呈现在显示器上，然后利用我公司专业的测量软件对各层厚度进行测量。测量结果既可以显示在塑料薄膜横剖面图像上，也可以输入Excel数据表中连同图像一起进行保存、输出。塑料薄膜多层厚度测量显微镜操作简单、使用方便，即可测单一薄膜厚度，也可测量复合薄膜、共挤薄膜等多层薄膜的总厚度及各层厚度。完全结果符合国家食品包装塑料薄膜技术标准GB/T 6672-2001（塑料薄膜和薄片厚度测定测量法）。等同于ISO 4593:1993((塑料— 薄膜和薄片— 厚度测定— 机械测量法》。
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