上海蒲柘光电仪器有限公司开发的颗粒粒度分析显微镜PZ-UV-G系列，也可称之为粒度显微镜、粒度分析显微镜、粒度检测仪、粒度测定仪是一款多功能颗粒粒度分析显微镜检测仪，与颗粒图像形态学有关的各种检测与分析：例如粉体粉末及微颗粒分析，漆表面污染分析，油料中污染物含量分析，牛奶中乳酸菌含量、农业种子形态分析，医学组织细胞形态学各种微小异性几何尺寸测量，化学工业中各种反应物粒子的形态分析等，都可以利用PZ-UV-G来完成。其原理是将摄像头与显微镜连接,,显微镜下的颗粒显微图像通过摄像头采集下来在电脑显示器显示，然后通过粒度分析软件进行分析，颗粒的粒径、等效粒径等二十多种多种测量参数的颗粒大小分布、百分含量通过表格法、图形法保存、及输出。软件可以分析出具有表示粒度特性的几个关键指标Dn10，Dn50，Dn90和Ds10，Ds50，Ds90数据，并可用户定制添加符合国标各类粒径测定分析项目。
一、应用范围：
1、固体颗粒粉末测量分析，包括不同颜色颗粒成分的含量分析
2、膏状物中颗粒测量分析，包括不同颜色颗粒成分的含量分析
3、液体中微小物测量分析，包括不同颜色颗粒成分的含量分析
二、主要功能：
1、分析方法按照GB/T 15445.2-2006/ISO 9276-2:2001«粒度分析结果的表述»国家标准规定．覆盖国标中规定采用显微分析法进行颗粒测定（如：GBZ/T 192.3—2007工作场所空气中粉尘测定第 3 部分:粉尘分散度等）同时我们也可以为用户定制符合国标各类粒径测定分析 。
2、系统可以在图像上显示时间、比例尺。粒径分布、百分含量可通过表格法、图形法保存、及输出
3、软件可以对所摄颗粒图像进行分析，并给出有效物编号，周长，等积圆直径，圆度，等周长圆直径，孔洞面积，不含洞面积，最小矩形区，矩形度，长轴长度，长轴方向角，垂长轴长度，长轴长宽比，短轴长度，短方向角，垂短轴长度，短轴长宽比，最大长宽比，区域宽度，区域高度，区域宽高比，平均直径，圆面积率，半周长，视场面积，内容物数目，内容物面积，内容物面积百分比，内容物数密度，有效物数目，有效物面积，有效物面积，有效物面积百分比，有效物数密度等20几种参数数据。数据可以输出导入EXCEL表格，对摄像的颗粒进行编号，编号跟表格里的颗粒序列号一一对应，并生成粒径个数统计表，粒径面积统计表，粒径分布表，粒径累计分布表。
4、软件可以分析出具有表示粒度特性的几个关键指标Dn10，Dn50，Dn90和Ds10，Ds50，Ds90数据。
5、软件可以对所摄图像进行长度，角度，周长，面积，点到直线，直线与直线，直线到圆弧等几何参 数测量。
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